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更新時(shí)間:2023-11-10
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sunny(先生)
IC失效分析 Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE
專業(yè)從事電子產(chǎn)品分析測(cè)試設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售,以及國(guó)外**設(shè)備代理,探針臺(tái)probe 開封機(jī)decap 微光顯微鏡emmi 紅外顯微鏡 iv自動(dòng)曲線量測(cè)儀 失效分析可靠性測(cè)試FIB,切割研磨機(jī)rie,電子顯微鏡sem等
金相顯微鏡,失效分析,樣品外觀形貌檢測(cè),


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