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探針臺probe電性測試失效分析

儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司

會員指數(shù)：

企業(yè)認(rèn)證：

價格：電議

所在地：北京

型號：

更新時間：2023-11-10

瀏覽次數(shù)：2266

公司地址：北京市中關(guān)村軟件園

13488683602 sunny(先生)

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產(chǎn)品簡介

探針臺probe電性測試失效分析芯片測試晶圓測試通過微探針連接到芯片并引出所需信號，用于電學(xué)特性測試。微小連接點(diǎn)信號引出，用于失效分析失效確認(rèn)，F(xiàn)IB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)等

公司簡介

IC失效分析 Decap，X-RAY，IV，EMMI，F(xiàn)IB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE

專業(yè)從事電子產(chǎn)品分析測試設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售，以及國外**設(shè)備代理,探針臺probe 開封機(jī)decap 微光顯微鏡emmi 紅外顯微鏡 iv自動曲線量測儀失效分析可靠性測試FIB,切割研磨機(jī)rie，電子顯微鏡sem等

展開

產(chǎn)品說明

探針臺probe電性測試失效分析芯片測試晶圓測試

主要用途

通過微探針連接到芯片并引出所需信號，用于電學(xué)特性測試

性能參數(shù)

放大倍數(shù)50X，100X，200X，500X

8個探針座

帶屏蔽箱

應(yīng)用范圍

微小連接點(diǎn)信號引出，用于失效分析失效確認(rèn)，F(xiàn)IB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)等。

本頁產(chǎn)品地址：http://www.mingjiewl.com/sell/show-7904080.html

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