激光粒度儀測試原理：樣品以適當(dāng)?shù)臐舛仍诤线m的液體或氣體中分散后，使其通過單色光束（通常是激光），光被顆粒散射后，分布在不同的角度上，記錄并分析

本公司可進(jìn)行以下各類儀器測試：EXAFS、球差電鏡、冷凍電鏡、原位透射、原位XRD、原位拉曼、原位紅外、原位XPS、原位EBSD、穆斯堡爾譜、TOF-SIMS、fS-TAS、球差電鏡、FIB、TEM度(可離子減薄、雙噴、FIB制樣)、磁性HRTEM、SAED、MAPPING、原位TEM、三維重構(gòu)等。SEM（ 冷場/熱場超高分辨，10-20萬倍(云直播) ），EBSD 機(jī)械拋光/電解拋光原位EBSD測試 。AFM 、形貌、楊氏模量等。工業(yè)CT 、EPMA 、三維輪廓儀、共聚焦顯微鏡。常規(guī)XRD、原位XRD、UPS、單晶、XRF、SAXS。能譜XPS、TOF-SIMS、俄歇電子譜輝光質(zhì)譜。 光譜 紅外、拉曼、紫外、熒光、圓二色譜、fs-TAS。物理吸附、化學(xué)吸附。核磁 液體核磁、固體核磁、ESR/EPR穆斯堡爾譜。熱分析 TG-DSC TG-MS 、TG-IR、 熱膨脹TMA、 DMA 、比熱容 、導(dǎo)熱系數(shù) 。錐形量熱儀 、極限氧指數(shù)、 UL94燃燒 。色譜質(zhì)譜 、MS 、 HPLC 。物性測試 VSM、 SQUID 、PPMS 。粒度 ZETA 、固體ZETA 接觸角。粘度 、矢量網(wǎng)絡(luò) 、水分測定、 霍爾效應(yīng) 、塞貝克系數(shù)、 流變儀 、電導(dǎo)率、 阻抗 、肖特基 、光電流、 SPV 、電磁屏蔽 、介電、 透氣性測試 。力學(xué)性能 納米壓痕、 微米劃痕、 拉伸 、疲勞 、沖擊、 殘余應(yīng)力、 硬度、理化分析實(shí)驗(yàn)室、材料測試實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)實(shí)驗(yàn)室等，提供化學(xué)測試、生物實(shí)驗(yàn)外包、環(huán)境檢測、模擬計(jì)算、科研繪圖在內(nèi)的各類科研服務(wù)。

激光粒度儀測試原理：
樣品以適當(dāng)?shù)臐舛仍诤线m的液體或氣體中分散后，使其通過單色光束（通常是激光），光被顆粒散射后，分布在不同的角度上，有規(guī)律的多元探測器在許多角度上接收到的有關(guān)散射圖的數(shù)值，并記錄這些數(shù)值供以后分析，使用適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)模型和數(shù)學(xué)程序，對散射數(shù)值進(jìn)行計(jì)算，得到各粒度級別的顆粒體積占總體積的比值，從而得出粒度分布及平均粒徑。測試過程不受溫度變化、介質(zhì)粘度，試樣密度及表面狀態(tài)等諸多因素的影響，只要將待測樣品均勻地展現(xiàn)于激光束中，即可獲得準(zhǔn)確的測試結(jié)果。
激光粒度儀測試的測試項(xiàng)目：
1.平均粒徑及顆粒大小分布。2.不僅能測固體顆粒，也能測液體中的分散粒子；測試只需將待測樣品均勻地展現(xiàn)于激光束中，即可給出準(zhǔn)確可靠的測量結(jié)果。
適用于建材、化工、冶金、能源、食品、電子、地質(zhì)等領(lǐng)域。
1.各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土等。
2.各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
3.其它粉體：如催化劑、水泥、磨料、醫(yī)藥、農(nóng)藥、食品、涂料、染料、熒光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各種乳濁液等。
a.粒徑分布，儀器測試范圍0.01-3000μm，最適合測試范圍10-1000μm
b.可以測干法及濕法，濕法測試需要提供待測樣品折射率（混合物提供只要主要成分折射率，查不到提供類似物質(zhì)即可）
c.濕法測試分散劑一般為去離子水和無水乙醇
激光粒度儀測試要求
1.激光粒度儀適用范圍（10-1000μm）；分干法和濕法測試；
2.干法測試需要準(zhǔn)備2-3g樣品，需要提供樣品折射率，密度；
3.濕法測試需要確定分散劑（一般為去離子水），需提供待測樣品的折射率，樣品配置條件等信息；粉末需要100mg, 液體根據(jù)濃度高低提供不同體積.
可以測干法及濕法，濕法測試需要提供待測樣品折射率（混合物提供只要主要成分折射率，查不到提供類似物質(zhì)即可）
1. 粒徑分布偏大
樣品可能團(tuán)聚或者沒有分散好，建議延長超聲時(shí)間或者加入合適分散劑
2. 如何解讀測試結(jié)果？
激光粒度儀測試報(bào)告會給出多種數(shù)據(jù)值，現(xiàn)在對常用的幾個(gè)參數(shù)進(jìn)行介紹。
（1）D [4, 3]：體積（重量）加權(quán)平均粒徑；D [3, 2]：面積加權(quán)平均粒徑，目前這些參數(shù)中采用較多的為D[4, 3]的粒徑值。
（2）Dv (10)，Dv (50)，Dv (90)（有時(shí)寫作Dv (0.1)，Dv (0.5)，Dv (0.9)）：代表粒徑體積分布下累積值，表示樣品中小于該粒徑值的顆粒占總樣品總體積的10 %，50 %，90 %。例如，Dv (50)為10 μm，即樣品中50%的樣品體積粒徑小于10 μm。
激光粒度儀測試常見問題
3.激光粒度分析儀與DLS測量粒徑的主要區(qū)別是？
主要區(qū)別在于測試范圍不同，一般μm級粒度的測試用激光粒度分析儀，nm級粒度的測試用DLS。
4.粒徑分布偏大的原因？
樣品可能團(tuán)聚或者沒有分散好，建議延長超聲時(shí)間或者加入合適分散劑


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