微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀測(cè)試:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是一種電磁波能量的測(cè)試設(shè)備。它既能測(cè)量單端口網(wǎng)絡(luò)或兩端口網(wǎng)絡(luò)的各種參數(shù)幅值，又能測(cè)相位，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能用史密斯圓圖顯示測(cè)試數(shù)據(jù)

本公司可進(jìn)行以下各類儀器測(cè)試：EXAFS、球差電鏡、冷凍電鏡、原位透射、原位XRD、原位拉曼、原位紅外、原位XPS、原位EBSD、穆斯堡爾譜、TOF-SIMS、fS-TAS、球差電鏡、FIB、TEM度(可離子減薄、雙噴、FIB制樣)、磁性HRTEM、SAED、MAPPING、原位TEM、三維重構(gòu)等。SEM（ 冷場(chǎng)/熱場(chǎng)超高分辨，10-20萬倍(云直播) ），EBSD 機(jī)械拋光/電解拋光原位EBSD測(cè)試 。AFM 、形貌、楊氏模量等。工業(yè)CT 、EPMA 、三維輪廓儀、共聚焦顯微鏡。常規(guī)XRD、原位XRD、UPS、單晶、XRF、SAXS。能譜XPS、TOF-SIMS、俄歇電子譜輝光質(zhì)譜。 光譜 紅外、拉曼、紫外、熒光、圓二色譜、fs-TAS。物理吸附、化學(xué)吸附。核磁 液體核磁、固體核磁、ESR/EPR穆斯堡爾譜。熱分析 TG-DSC TG-MS 、TG-IR、 熱膨脹TMA、 DMA 、比熱容 、導(dǎo)熱系數(shù) 。錐形量熱儀 、極限氧指數(shù)、 UL94燃燒 。色譜質(zhì)譜 、MS 、 HPLC 。物性測(cè)試 VSM、 SQUID 、PPMS 。粒度 ZETA 、固體ZETA 接觸角。粘度 、矢量網(wǎng)絡(luò) 、水分測(cè)定、 霍爾效應(yīng) 、塞貝克系數(shù)、 流變儀 、電導(dǎo)率、 阻抗 、肖特基 、光電流、 SPV 、電磁屏蔽 、介電、 透氣性測(cè)試 。力學(xué)性能 納米壓痕、 微米劃痕、 拉伸 、疲勞 、沖擊、 殘余應(yīng)力、 硬度、理化分析實(shí)驗(yàn)室、材料測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)實(shí)驗(yàn)室等，提供化學(xué)測(cè)試、生物實(shí)驗(yàn)外包、環(huán)境檢測(cè)、模擬計(jì)算、科研繪圖在內(nèi)的各類科研服務(wù)。

微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀測(cè)試
微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀測(cè)試介紹：
微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀將合成掃頻信號(hào)源、多通道幅相接收機(jī)和S參數(shù)測(cè)試裝置有機(jī)地結(jié)合在一臺(tái)儀器中，具有結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)量頻帶寬、測(cè)量速度快和攜帶方便等特點(diǎn)，測(cè)量通過一次掃描，可同時(shí)獲得被測(cè)網(wǎng)絡(luò)正反向四個(gè)S參數(shù)的幅度信息、相位信息和群延遲特性。
微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀測(cè)試功能：1.既能測(cè)量單端口網(wǎng)絡(luò)或兩端口網(wǎng)絡(luò)的各種參數(shù)幅值，又能測(cè)相位，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能用史密斯圓圖顯示測(cè)試數(shù)據(jù)。2.可以測(cè)試電磁屏蔽和吸波性能。3.電磁屏蔽計(jì)算主要用S參數(shù)，吸波效率計(jì)算用電磁參數(shù)。
微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀測(cè)試要求
1，粉末樣品至少200mg（不需要提供石蠟）；
2，塊體樣品測(cè)試同軸法，樣品尺寸精度要求很高，內(nèi)徑3.04，外徑7mm；厚度：不限，一般統(tǒng)一選擇（ 2±0.040 mm）；
3，塊體樣品測(cè)試波導(dǎo)法，不同范圍對(duì)應(yīng)不同尺寸，要求樣品表面盡量平整光滑、無彎曲。樣品尺寸：標(biāo)準(zhǔn)尺寸或者長寬尺寸偏大2-3mm，樣品厚度：不限，微米級(jí)別-20mm都可以，對(duì)于厚度小于0.5mm的薄膜，由于較脆弱，制樣不易，盡量大小要提供比標(biāo)準(zhǔn)尺寸大一些，以免出現(xiàn)漏磁，造成數(shù)據(jù)偏差。
標(biāo)準(zhǔn)尺寸具體如下（寬*長）：
1.13-1.73GHz：82.4*164.8 mm
1.72-2.61 GHz：54.46*108.92 mm
2.60-3.95 GHz：33.89*71.84 mm
3.94-5.99 GHz：22.0*47.25 mm
5.38-8.17 GHz：15.75*34.70 mm
8.2-12.4GHz：22.9*10.2mm
12.4-18.0GHz：15.9*8.03mm
18.0-26.5GHz：10.95*4.5mm
26.0-40.0GHz：7.15*3.60mm；
4，塊體樣品測(cè)試弓形法，要求 180*180mm，300*300mm，兩個(gè)尺寸中的一種（直接測(cè)吸波效率的，測(cè)不了電磁參數(shù)）。
5，SPDR 接受塊體樣品，測(cè)試需要厚薄均勻，介電常數(shù)＞20，
尺寸具體如下（長寬/直徑范圍，厚度）：
1G：110-190mm，3mm
2.5G：60-120mm，3mm
3G：50-120mm，3mm
5G：50-100mm，1.6mm
10G：30-100mm，1mm
15G：20-100mm，0.5mm
20G：20-40mm，0.5mm
28G：20-40mm，0.5mm
39G：20-40mm，0.5mm
微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀測(cè)試常見問題
1. 薄膜樣品是否可以測(cè)試？
根據(jù)頻率確定測(cè)試方法，但是鑒于薄膜樣品的情況，一般適合用波導(dǎo)法測(cè)試，厚度要求不是很嚴(yán)格，需要自己測(cè)量好薄膜的厚度。
2. 粉末測(cè)試時(shí)，和石蠟的摻雜比怎么確定？
這個(gè)最好根據(jù)自己的樣品成分，參考文獻(xiàn)來確認(rèn)。不同樣品合適的摻雜比例不同。一般測(cè)試時(shí)，也很難做到一個(gè)摻雜比例就可以得到比較好的測(cè)試結(jié)果，可能需要根據(jù)一個(gè)比例的測(cè)試結(jié)果，來調(diào)整摻雜比例，以獲取更優(yōu)的測(cè)試結(jié)果。但是一般樣品的比例太高的話，不一定能制成同軸環(huán)，所以可能制樣不成功，無法測(cè)試。
3. 為什么有的介電常數(shù)是負(fù)值？
一般可能是因?yàn)樵嚇拥臐舛忍吡耍春褪灀诫s時(shí)，樣品的比例太高），基本上快成導(dǎo)體了，已經(jīng)形成導(dǎo)電通道了，介電數(shù)據(jù)異常了，不過可以看S參數(shù)計(jì)算屏蔽效能。這時(shí)候材料就只有屏蔽效果了，沒有吸波性能了，和金屬板差不多了，超過預(yù)設(shè)閾值了，有導(dǎo)電通道了，不適合這個(gè)儀器測(cè)試范圍了。這種情況，一般建議調(diào)整降低樣品的比例。
4. 磁導(dǎo)率的虛部為什么是負(fù)值？
一般這種情況，樣品里可能都含有碳材料


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