北京亞歐德鵬科技有限公司是一家集研、生產(chǎn)、銷(xiāo)、服務(wù)于一體的企業(yè)。在國(guó)內(nèi)設(shè)有多個(gè)辦事處。

北京亞歐德鵬科技有限公司是產(chǎn)品系統(tǒng)集成商，引進(jìn)在線、離線儀器儀表、機(jī)械設(shè)備與材料，為用戶(hù)提供了產(chǎn)品和服務(wù)，在冶金煤礦、石油、化工、環(huán)保、電子、機(jī)械、光學(xué)、通訊、科研及院校等領(lǐng)域，與多廠家有合作關(guān)系。目前我公司與許多儀器儀表廠商定有代理協(xié)議。

超聲波測(cè)厚儀 型號(hào): DP10779
 DP10779 超聲波測(cè)厚儀具有標(biāo)準(zhǔn)和涂層兩種工作模式。
涂層模式采用回波-回波法，當(dāng)材料表面有涂層時(shí)，無(wú)需把涂層打磨掉，能直接測(cè)出基材凈厚度，而且不需要對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，可直接測(cè)量，缺點(diǎn)是測(cè)量范圍受到一定限制，當(dāng)使用標(biāo)準(zhǔn)探頭時(shí)，測(cè)量范圍是3mm～18mm；具有0.01的分辨率，內(nèi)置７種探頭補(bǔ)償線，能更好的匹配各種探頭。
標(biāo)準(zhǔn)模式采用脈沖-回波法，當(dāng)材料表面覆有涂層時(shí)會(huì)帶來(lái)測(cè)量誤差，因此須把涂層打磨干凈后再測(cè)量，標(biāo)準(zhǔn)模式的優(yōu)點(diǎn)是測(cè)量范圍寬，當(dāng)使用標(biāo)準(zhǔn)探頭時(shí)，測(cè)量范圍是 0.8mm～300mm。
特點(diǎn):
?? 具有標(biāo)準(zhǔn)和穿透涂層兩種工作模式
?? 小值捕獲（也稱(chēng)掃查模式） ：捕獲測(cè)量過(guò)程中的小值
?? 兩點(diǎn)校準(zhǔn)：測(cè)量曲面壁厚或特殊應(yīng)用時(shí)，可提高測(cè)量的精度
?? 具有EL背光顯示，為夜間工作帶來(lái)方便
?? 自動(dòng)關(guān)機(jī)：如果5分鐘內(nèi)沒(méi)進(jìn)行任何操作，儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)
?? 支持中文、英文兩種語(yǔ)言界面
?? 厚度報(bào)警：可設(shè)置厚度界限，對(duì)限界外的測(cè)量值自動(dòng)報(bào)警
?? 自動(dòng)V聲程修正，補(bǔ)償雙晶探頭的非線性度
超聲波測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
??工作方式：
1.?界面波～回波方式（標(biāo)準(zhǔn)模式，用于普通厚度測(cè)量）
2.?回波～回波方式（涂層模式，用于不去除油漆層的基材凈厚度測(cè)量）
??測(cè)量范圍：
1.?0.8～300mm （標(biāo)準(zhǔn)模式）
2.?3.0～18mm (涂層模式)取決于所用探頭、所測(cè)材料、表面狀況
??示值誤差：
1.?±0.05mm (10mm以下)
2.?±0.5% H+0.01（10mm以上）
??探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)：
1.?一點(diǎn)校準(zhǔn)（用于常規(guī)的厚度測(cè)量）
2.?兩點(diǎn)校準(zhǔn)（測(cè)量曲面壁厚或特殊應(yīng)用時(shí)，可顯著提高測(cè)量精度）
??顯示分辨率：0.01，0.1(mm)
??重復(fù)性：±0.05mm
??測(cè)量刷新頻率：常規(guī)測(cè)量時(shí)4Hz//小值掃查時(shí)25Hz
??材料聲速范圍：1000～9999m/s
??數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：劃分5個(gè)數(shù)組，可存儲(chǔ)500個(gè)厚度值
??顯示屏：128×64點(diǎn)陣液晶屏（42×57毫米）
??電源：兩節(jié)1.5V/AA電池，當(dāng)電池電量不足時(shí)，有低電壓提示
??操作時(shí)間：兩節(jié)5號(hào)電池，使用時(shí)間200小時(shí)
??自動(dòng)關(guān)機(jī)：4分鐘無(wú)操作后自動(dòng)關(guān)機(jī)
??工作溫度：-9℃～+52℃，有特殊要求可達(dá)-20℃
??尺寸：150mm×75mm×33mm (H×W×D)
??重量：200g
標(biāo)配:
?  DP10779 超聲波測(cè)厚儀主機(jī)
??標(biāo)配探頭
??探頭線
??AA型堿性電池2節(jié)
??耦合劑
??隨機(jī)文件
??儀器箱
可選配:
? 超聲波測(cè)厚儀探頭
??通信軟件及電纜
??階梯試塊
??耦合劑及高溫耦合劑
??時(shí)代超聲波測(cè)厚儀選型表