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價(jià)格:電議
所在地:北京
型號(hào):HS-CLT
更新時(shí)間:2020-09-18
瀏覽次數(shù):2616
公司地址:中國(guó) 北京市通州區(qū) 北京市通州區(qū)工業(yè)開(kāi)發(fā)區(qū)光華路16號(hào)
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肖宗鏞(先生)
合能陽(yáng)光是一家硅材料檢驗(yàn)儀器及服務(wù)提供商,提供全面的硅料、單晶硅片、多晶硅片等成套檢驗(yàn)設(shè)備及最優(yōu)解決方案。同時(shí),拉單晶生產(chǎn)所需的輔料也是我公司主營(yíng)范圍之一。
北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司是一家集科、工、貿(mào)為一體的光伏高科技公司。
近年來(lái),隨著太陽(yáng)能行業(yè)的飛速發(fā)展,導(dǎo)致硅材料極度緊張,硅材料價(jià)格也不斷上漲,使得客戶(hù)在選用制造過(guò)程用的相關(guān)輔料耗材時(shí),極為慎重,對(duì)于太陽(yáng)能耗材的要求越來(lái)越高。合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司在太陽(yáng)能耗材、儀表、設(shè)備方面積累了多年的經(jīng)驗(yàn),為客戶(hù)提供了高品質(zhì)的產(chǎn)品和優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。
每一張定單的背后都包含著合能陽(yáng)光人做事的原則:
------及時(shí)發(fā)貨
------優(yōu)質(zhì)包裝
------專(zhuān)業(yè)服務(wù)
我們所提供的不僅是產(chǎn)品,還將為您提供技術(shù)支持,我們?cè)谶@個(gè)行業(yè)中的技術(shù)積累,使我們能夠?yàn)橛脩?hù)解決問(wèn)題,這也是我們引以為驕傲的角色。
| 品牌 | HenergySolar | 型號(hào) | HS-CLT |
| 測(cè)量范圍 | 0.1μs-30ms | 電源電壓 | 220(V) |
| 用途 | 用于硅半導(dǎo)體的測(cè)量 |

【 網(wǎng)址】http://www.henergysolar.com/product/hs-clt.htm
合能陽(yáng)光少子壽命測(cè)試儀(HS-CLT),是一款功能強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀,不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量,更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測(cè)量。少子測(cè)試量程從1μs到6000μs,硅料電阻率下限達(dá)0.1Ω.cm(可擴(kuò)展至0.01Ω.cm)。測(cè)試過(guò)程全程動(dòng)態(tài)曲線(xiàn)監(jiān)控,少子壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng)表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況,是原生多晶硅料及半導(dǎo)體及太陽(yáng)能拉晶企業(yè)不可多得少子壽命測(cè)量?jī)x器。
少子壽命測(cè)試儀-產(chǎn)品特點(diǎn)
■測(cè)試范圍廣:包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命測(cè)量。
■主要應(yīng)用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片的進(jìn)廠(chǎng)、出廠(chǎng)檢查,生產(chǎn)工藝過(guò)程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。
■適用于低阻硅料少子壽命的測(cè)量,電阻率測(cè)量范圍可達(dá)ρ>0.1Ω?cm(可擴(kuò)展至0.01Ω?cm),完全解決了微波光電導(dǎo)無(wú)法檢測(cè)低阻單晶硅的問(wèn)題。
■全程監(jiān)控動(dòng)態(tài)測(cè)試過(guò)程,避免了微波光電導(dǎo)(u-PCD)無(wú)法觀(guān)測(cè)晶體硅陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)缺陷的問(wèn)題。
■貫穿深度大,達(dá)500微米,相比微波光電導(dǎo)的30微米的貫穿深度,真正體現(xiàn)了少子的體壽命的測(cè)量,避免了表面復(fù)合效應(yīng)的干擾。
■專(zhuān)業(yè)定制樣品架zui大程度地滿(mǎn)足了原生多晶硅料生產(chǎn)企業(yè)測(cè)試多種形狀的硅材料少子壽命的要求,包括硅芯、檢磷棒、檢硼棒等。
■高,價(jià)格遠(yuǎn)低于國(guó)外國(guó)外少子壽命測(cè)試儀產(chǎn)品,大程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本。
少子壽命測(cè)試儀-推薦工作條件
■溫度:23±2℃
■濕度:60%~70%
■無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近
少子壽命測(cè)試儀-技術(shù)指標(biāo)
■測(cè)試材料:硅半導(dǎo)體材料 - 硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片等,鍺半導(dǎo)體材料。
■少子壽命測(cè)試范圍 :1μs-6000μs
■可測(cè)低阻硅料下限: 0.1Ω.cm, 可擴(kuò)展到 0.01Ω.cm
■激光波長(zhǎng): 1.07μm
■激光在單晶硅中的貫穿深度: 500μm
■工作頻率: 30MHz
■低輸出阻抗,輸出功率> 1W
■電源:~220V 50Hz 功耗<50W
少子壽命測(cè)試儀-典型用戶(hù)
北京,浙江,四川,河北,河南等地的硅料生產(chǎn)企業(yè)及半導(dǎo)體光伏拉晶客戶(hù)

電子郵件咨詢(xún):
免責(zé)聲明:以上所展示的[HS-CLT 少子壽命測(cè)試儀(HS-CLT)]信息由會(huì)員[北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司]自行提供,內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)。| 詢(xún)價(jià)標(biāo)題 | |
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