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價格:電議
所在地:北京
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更新時間:2022-07-19
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公司地址:北京市石景山萬達(dá)廣場E座2801
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趙忠海(先生)

電子背散射硅探測器
自1983年以來,MICRON已成為核物理、高能物理、空間物理、核醫(yī)學(xué)研究、OEM(原始設(shè)備制造商)市場的硅探測器的領(lǐng)先制造商。MICRON專門生產(chǎn)定制的AC和DC硅和金剛石探測器,被世界各地的用戶廣泛使用。
LL系列硅探測器設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)為環(huán)形象限、靶孔和帶薄入口窗的雙元素探測器,針對性的用于電子顯微鏡中1keV的低能電子探測。
電子背散射硅探測器主要性能指標(biāo)參數(shù)(以LL2-300為例):
有效探測面積:6.858 mm(內(nèi)徑) x 24.13 mm(外徑)
靶孔直徑:5.6mm
硅片厚度:300μm
死層厚度:1μm、100nm、50nm可選
表面電容:40 pF /cm2
正向電壓(10mA):< 0.8 V
噪聲(12V) rms:< 2.5mV(相對值)
表面金屬化:鋁3000 ?
歐姆面金屬化:金3000?
封裝方式:PCB封裝
連接器:飛線連接(其他連接器類型可選)
質(zhì)量保證:ISO9001
LL系列產(chǎn)品多種尺寸可選,可根據(jù)設(shè)計(jì)需求來電咨詢,選擇合適的探測器。
電子背散射硅探測器
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