無損測試儀器: X射線探傷儀:

 探傷測試,無損測試設(shè)備:鑄件,壓模件,電熱絲、發(fā)熱盤、熱敏電阻、電容、集成電路、電路板、電子連接器等的脫焊、空焊、連錫、氣泡，工業(yè)鑄件,焊縫測試,產(chǎn)品內(nèi)部的圖形結(jié)構(gòu)和缺陷,等測試。產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)是否有損壞、是電子產(chǎn)品無損測試的專用設(shè)備。還可用于鑄件裂紋，裂縫、氣孔等無損測試。

技術(shù)參數(shù):

1、數(shù)字成像系統(tǒng):為工業(yè)非晶硅DR平板探測器，

2、像素間距:125微米，

3、AD轉(zhuǎn)換16比特。

4、 視場：350x430mm（另有160x130mm250x300mm供用戶選擇 ）

5、分辨率：125um；(數(shù)字化高清圖像)          

6、間距：50-500mm；        

7、管電壓：50-120kv；         

 8、管靶流：0.2-1.25mA；

9、電源：220VAC

10、主機重量：86kg；

11 、軟件功能，圖像軟件、正反選、縮放、旋轉(zhuǎn)等多功能調(diào)節(jié).

射線照相、超聲、渦流、磁粉、滲透、目視、泄漏、聲發(fā)射、塑膠氣孔氣泡焊接裂紋雜質(zhì)X射線透視測試等