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企業(yè)認(rèn)證：
價(jià)格：電議
所在地：吉林 長(zhǎng)春市
型號(hào)：光譜測(cè)試儀器
更新時(shí)間：2024-08-27
瀏覽次數(shù)：1146
公司地址：長(zhǎng)春市高新開發(fā)區(qū)繁榮路5099號(hào)
王雪(女士) 銷售
anoMap-O三維非接觸光學(xué)表面輪廓儀
我們的高分辨掃描白光干涉儀是一個(gè)、易于使用的光學(xué)計(jì)量學(xué)系統(tǒng)。NanoMap-O系列光學(xué)輪廓儀廣泛地用于表征各種表面參數(shù)，像表面粗糙、尺度、臺(tái)階高度、薄膜厚度等。所有的測(cè)量都是快的非接觸的。
結(jié)合高質(zhì)量的激光器、透鏡、低機(jī)器噪聲和技術(shù)，它能夠完成二百多萬(wàn)像素的圖像，具有0.001nm的分辨率。數(shù)據(jù)分析SPIP軟件是工業(yè)上有用的軟件，廣大用戶能夠做各種應(yīng)用的表面分析。
特征
? 非接觸基的技術(shù)
? 多余二百萬(wàn)像素的圖像
? 0.001nm的分辨率
? Z軸范圍從nm到50mm
? XY掃描范圍達(dá)到150
? 超高分辨率數(shù)字成像傳感器同工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)比較，傳遞13倍的數(shù)據(jù)
? LED光源壽命多于15年
應(yīng)用
? 臺(tái)階高度測(cè)量
? 表面粗糙測(cè)量
? 定量的抓和挖的特征，呈現(xiàn)深度、寬度和體積
? 平面或曲率的測(cè)量
? 二維薄膜應(yīng)力測(cè)量
? 薄膜厚度
? 表面輪廓- 缺陷、形貌等
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