英國abi_AT256 A4 pro4集成電路測試儀具備二維集成電路專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：256路;二維電路板專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：256路;三維掃頻V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道：256路;集成電路的來料質量控制檢測與篩選、一致性檢測；快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件

北京金三航科技發(fā)展有限公司;北京金三航科技發(fā)展有限公司是一家專業(yè)的儀器儀表生產、銷售及技術咨詢企業(yè).主要生產:集成電路測試儀,電路維修測試儀,電路板故障檢測儀,IC測試儀,熱風吸錫維修系統.專業(yè)代理銷售:法國CA電能質量分析儀,諧波測試儀,諧波分析儀,絕緣電阻測試儀,兆歐表,高阻計,四隔離通道手持示波器;英國ABI集成電路測試儀,電路板故障檢測儀等.憑借較強的技術實力,能夠給用戶提供完善的售前售后技術支持.科技創(chuàng)新、服務無限,提供致臻的服務是北京金三航科技發(fā)展有限公司工作的宗旨.法國CA電能質量分析儀全國總代理;英國ABI電路板故障檢測儀專業(yè)代理商.https://www.test.net.cn/ictest

英國abi_AT256 A4 pro4集成電路測試儀通道配置：

二維集成電路專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：256路
二維電路板專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：256路（可擴充至2048路）
三維掃頻V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道：256路（可擴充至2048路）

功能用途：
1）集成電路的來料質量控制檢測與篩選、一致性檢測；
2）快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件；
3）對不良器件進行三維動態(tài)阻抗失效分析；
4）非加電條件下對集成電路、電路板進行的端口動態(tài)阻抗測試分析；
5）快速準確定位失效集成電路故障管腳，查找故障電路板的失效I/O管腳；
6）測試安全可靠，解決器件工藝、電路板工藝問題，快速解決集成電路及電路板故障點定位問題；
7）進行集成電路和電路板阻抗一致性檢測；
8）配合專用測控平臺軟件，實現集成電路、電路板定制化和自定義編程測試。

英國abi_AT256 A4 pro4集成電路測試儀技術規(guī)格：
1）256路二維集成電路專用V-I端口動態(tài)阻抗測試通道；
2）256路二維電路板專用V-I端口動態(tài)阻抗測試通道；
3）256路V-I-F三維立體動態(tài)阻抗測試通道；
4）4路探筆測試，4路V-T/V-T-F測試通道；
5）顯示圖形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F；
6）可定制各種封裝通用集成電路測試治具；
7）可定制各種電路板I/O接口測試治具；
8）系統提供測試自定義報告輸出；中英文專用測試操作軟件；
9）設備可以64通道為步進可擴充到2048組測試通道。

測試原理(V-I曲線測試)：
對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅動信號，產生一個阻抗特征圖，以備對比和存儲。
被測器件和數據庫中標準動態(tài)阻抗圖相比對，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測試信號可設定的參數包括: 電壓、波形、源電阻、頻率?？筛鶕枰M行調整以便得到準確的信息。

集成電路測試操作如此簡單:
1.從數據庫選擇要測試的集成電路型號.
2.將集成電路插入測試座.
3.執(zhí)行測試
4.得到PASS或FAIL的測試結果.

不需要電子專業(yè)知識.
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板.
靈活、好安裝、宜操作.
測試結果直接: PASS或FAIL.
軟件可設定各種測試條件.
可提供完整的集成電路自定義測試分析報告.

英國abi_AT256 A4 pro4集成電路測試儀適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意: AT256 A4 pro4不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個電路板的測試。

三維立體V-I-F動態(tài)阻抗端口測試

AT256 A4 pro4測試報告
ABI-AT256 A4 pro4內圖2

北京金三航科技發(fā)展有限公司(英國ABI技術服務中心）提供:
集成電路測試儀,集成電路篩選測試儀,元器件篩選測試儀,元器件檢測儀,三維立體動態(tài)阻抗測試儀的使用技術培訓服務,測試程序開發(fā)編譯服務。

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