YL-ScinAF－05B 是本公司研制的一款高余輝測量系統(tǒng)。本儀器采用 X 光源為激發(fā)源（脈沖與連續(xù)兩種模式），進口高增益、低噪聲光電倍增管為光電探測器，采用高速 ADC 和 FPGA、DSP 技術設計實現高速準確的數據采集

廣州譽立電子科技有限公司

 余輝測量時間范圍：5 微秒～1000 毫秒；

l 余輝測量動態(tài)范圍：1～104；

l 波長測量范圍：200－900nm；

l 脈沖 X 源下降沿短于 50 納秒；連續(xù) X 源下降沿小于 3 毫秒；

l 儀器標配固體品品臺和粉末、液體樣品臺，可測量包括晶體、陶瓷、粉末以及液體閃 爍材料；

l 儀器采用 PC 控制、實現整個測試系統(tǒng)的高壓加載、校準、激發(fā)、數據采集、存儲等 功能的實時與自動化控制。

l 提供配套的熱釋光分析軟件，內置熱釋光一級、二級、一般級動力學模型，并可進一 步對發(fā)光曲線進行擬合、解譜分析等

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