MHY-03853型智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀是種新穎的測(cè)量介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)的自動(dòng)化儀器?？梢栽陬l電壓下，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量各種緣材料、緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)。與西林電容電橋相比，具有操作簡(jiǎn)單、自動(dòng)測(cè)量、讀數(shù)直觀、無需換算、度、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。儀器內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容器和升電壓裝置，在“內(nèi)接”方式下使用，無需其它外接設(shè)備，便于攜帶。具有多種測(cè)量方式，可選擇正/反接線、內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容器和內(nèi)/外試驗(yàn)電壓行測(cè)量。正接線可測(cè)量壓介損。內(nèi)附DP-SF6標(biāo)準(zhǔn)電容器，tgδ<0.005%，受空氣濕度影響小，矢量運(yùn)算法結(jié)合移相、倒相法，抗干擾效果好；能有效地消除強(qiáng)烈的電場(chǎng)干擾對(duì)測(cè)量的影響，適用于500kV其以下電站的強(qiáng)干擾現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)。

     智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介質(zhì)損耗測(cè)試儀    主要特點(diǎn)

             壓短路和突然斷電時(shí)，儀器能迅速切斷壓，并發(fā)出警告信息。

             測(cè)量重復(fù)性好，電壓線性好（測(cè)量準(zhǔn)確度不受電壓影響）。

             體化結(jié)構(gòu)，重量適中，便于攜帶。

             大屏幕帶背光中文液晶顯示器信息提示操作，使用方便。

             儀器自帶打印機(jī)，及時(shí)保存測(cè)試數(shù)據(jù)。

             壓電纜連接至試品，保障安；儀器未接地報(bào)警，安措施備。

     智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介質(zhì)損耗測(cè)試儀      術(shù)標(biāo)

             額定作條件：溫度0～40℃，相對(duì)濕度：30%～85%，供電電源220V±22V  50±1Hz

             外形尺寸：440×330×400mm

             重量:不大于23kg

             耗:不大于40VA

             測(cè)量范圍：介質(zhì)損耗(tgδ) 0～1分辨率0.0001；電容量(Cx):zui小分辨率0.01pF

             內(nèi)接方式：試驗(yàn)電壓試品電容量5kV 7.5kV 10kV  3pF～40000PF

1.5kV 2.25kV 3Kv  10pF～0.35μF

0.5kV 0.75kV 1kV  30pF～1.5μF

             外接方式：“外接升壓器”方式zui試驗(yàn)電壓10kV，“外接Cn”方式（外接壓、外接標(biāo)準(zhǔn)電容器）zui試驗(yàn)電壓由標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試品決定(Umax=Imax/ωC)

             標(biāo)準(zhǔn)回路zui大電流50mA(In=UωCn)被試回路zui大電流2A(Ix=UωCx)

             內(nèi)升壓器輸出能力：輸出電壓額定輸出電流5kV 7.5kV 10kV  100mA；1.5kV 2.25kV 3kV  300mA；0.5kV 0.75kV 1kV  500mA

             基本測(cè)量誤差：

測(cè)量?jī)?nèi)容 tgδ范圍 電容量范圍(Cx) 試品類型 基本誤差 

介質(zhì)損

耗因數(shù)

tgδ 0～0.5 50pF～60000pF 非接地 ±(1%讀數(shù)+0.0005) 

接地 ±(1%讀數(shù)+0.0010) 

10pF～50pF或

60000pF以上 非接地 ±(1%讀數(shù)+0.0010) 

接地 ±(2%讀數(shù)+0.002) 

3pF～10pF 非接地

與接地 

電容量 50pF以上 ±(1%讀數(shù)+1pF) 

50pF以下 ±(1%讀數(shù)+2pF) 

        作原理

儀器測(cè)量線路包括路標(biāo)準(zhǔn)回路和路被試回路，標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與采樣電路組成,被試回路由被試品和采樣電路組成。由DP-8031單片機(jī)運(yùn)用計(jì)算機(jī)數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,對(duì)數(shù)以計(jì)的采樣數(shù)據(jù)處理后行矢量運(yùn)算，分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系,并由之算出試品的電容值(Cx)和介質(zhì)損耗角正切(tgδ)，測(cè)量結(jié)果可靠。現(xiàn)場(chǎng)有干擾時(shí)，利用移相、倒相法減小干擾的影響，再將被試回路測(cè)`得的電流Ix′與單測(cè)得的干擾電流Id矢量相加，得到真正的測(cè)量電流Ix，而得出正確的測(cè)量結(jié)果。由圖3可見，可根據(jù)不同的測(cè)量對(duì)象和測(cè)量需要，靈活地采用多種接線方式。如測(cè)量非接地試品（正接法）時(shí)，“LV”（E）點(diǎn)接地；而測(cè)量接地試品（反接法）時(shí)，則“HV”點(diǎn)接地。