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價格：電議
所在地：北京
型號：RHA-ZDNP-6
更新時間：2017-12-12
瀏覽次數(shù)：1389
公司地址：北京市門頭溝石龍經(jīng)濟開發(fā)區(qū)永安路20號石龍高科大廈
李冉(女士) 業(yè)務員
電子式紙板耐破度測定儀 紙板耐破度測定儀 紙板耐破度檢測儀 型號：RHA-ZDNP-6
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本紙板耐破度儀是我廠研制生產(chǎn)的新一代紙張試驗儀器。它采用了以單片機為核心的測控手段，從而實現(xiàn)了檢測、控制及數(shù)據(jù)處理的全部數(shù)字化、微機化。各項技術(shù)參數(shù)與性能指標均符合ISO2759《紙板耐破度的測定》，QB/T1057《紙與紙板耐破度儀》和GB1539《紙板耐破度測定法》等標準的規(guī)定與要求。 本儀器操作簡單，性能可靠、技術(shù)，是科研單位、造紙廠家、包裝行業(yè)、質(zhì)檢部門不可缺少的理想設備。 |
| 主要技術(shù)參數(shù)： |
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1、測量范圍：0-6000kPa |
導電型號測試儀/PN測試儀/硅料PN鑒別儀 型號：RHA-KDK-STY-3
| 產(chǎn)品簡介 |
| RHA-KDK-STY-3型導電型號測試儀是嚴格按照國標GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半導體村料導電類型的標準測試方法）中的熱探針及整流導電類型測試方法設計的導電類型鑒別儀。
本儀器熱探筆內(nèi)裝有加熱和控溫組件，自動加熱并使溫度維持在50?60℃范圍內(nèi)，冷熱探筆在半導體材料上產(chǎn)生的熱電動勢及整流法產(chǎn)生的電勢差經(jīng)低噪聲、低漂移的集成運算放大器放大后，用液晶顯示器件（LCD）及檢流計指示型號方向。儀器靈敏度分高、低兩檔，可判別大部分非本征半導體材料型號（從高阻單晶到重摻單晶）。
二、技術(shù)性能
1、可判別鍺、硅著料的電阻率范圍：
鍺：非本征鍺103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
經(jīng)外實驗證明：在室溫情況下，熱電法對于電阻率低于1000Ω·cm的硅單晶整流法結(jié)果可靠。
2、鍺、硅單晶直徑及長度：不受限制
3、顯示方式：由顯示N和P的液晶器件直接指示，同時中心刻度為零位檢流計也在指示型號，指針向左偏轉(zhuǎn)被測樣品為N型，指針向右偏轉(zhuǎn)被測樣品為P型。
5、探針：先用ASTM F42標準中建議的不銹鋼作冷熱探針材料，針尖為60℃錐體，熱筆溫度自動保持在50?60℃范圍內(nèi)，冷筆與室溫相同。整流法行選用硬質(zhì)合金作探針。
6、電源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供電，zui大功耗（熱筆加熱狀態(tài)）小于40W，平均功耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：約 4 kg
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半導體導電型號鑒別儀/導電型號鑒別儀/PN測試儀/PN鑒別儀 型號：RHA-CG-3
RHA-CG-3半導體導電型號鑒別儀是快速鑒別硅晶材料的導電類型“P”和“N”的測量儀器，測量范圍寬，硅材料電阻率從0.1~104Ω*cm。儀器采用進口16位單片IC電路為核心，利用數(shù)字采集濾波技術(shù)，并用“P”和“N”數(shù)碼直接顯示，因而使測量的準確度和穩(wěn)定性大幅度提高。儀器采用手持式三探針探頭，使用簡單，操作方便。在太陽能硅材料分選時，采用整流法對﹤0.1Ω*cm的材料具有聲光報警功能，快速。
2. 可測量材料： 半導體硅棒和硅片、硅碎顆粒
3. 顯示方式： P、N直顯
4. 重參報警功能; 聲光
5. 設定; 0.1檔、0.5檔報警
6. 測試探頭： 手持式三探針（高速鋼），
針尖距2.5mm探針直徑1mm.
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