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E8—SPR X射線熒光光譜儀,rohs分析儀,鹵素分析儀,鍍層測(cè)厚儀

深圳禾苗分析儀器有限公司
會(huì)員指數(shù): 企業(yè)認(rèn)證:  

價(jià)格:電議

所在地:廣東 深圳市

型號(hào):E8—SPR

更新時(shí)間:2015-03-05

瀏覽次數(shù):883

公司地址:深圳市南山區(qū)南頭關(guān)口二路智恒產(chǎn)業(yè)園27棟2樓

楊生(先生)  

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),與普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系統(tǒng)集合外幾十年EDXRF技術(shù),核心部件采用美國(guó)進(jìn)口,軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣

公司簡(jiǎn)介

 
展開(kāi)

產(chǎn)品說(shuō)明

應(yīng)用領(lǐng)域

Ø         RoHS /ELV指令:

u       測(cè)試元素:Pb(鉛)、Cd(鎘)、Hg(汞)、Cr(鉻)、Br(溴);

Ø         無(wú)鹵檢測(cè):

u       測(cè)試元素:Br(溴)、Cl(氯);

Ø         玩具檢測(cè):

u   歐盟的88/378/EEC指令和EN-71標(biāo)準(zhǔn);

u   美國(guó)的ASTM F963標(biāo)準(zhǔn);

u    日本ST2002標(biāo)準(zhǔn);

u    GB 6675-2003《玩具安全技術(shù)規(guī)范》;

u    測(cè)試元素:

Pb(鉛)、Cr(鉻)、Ba(鋇)、Hg(汞)、Cd(鎘)、

Sb(銻)、Se(硒)、As(砷)、Co(鈷)、Cu(銅)、

Zn(鋅)、Mn(錳)、Sr(鍶)、Sn(錫)、Ni(鎳)

Ø       鍍層分析:

u   各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn、Cr、Pd等厚度分析;

u   鍍層元素含量分析

Ø       合金分析:

u   鋼鐵、銅類、鋅類等成分分析。 

儀器特點(diǎn):

Ø      外形特點(diǎn):

ð        儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì),儀器兩側(cè)按成人手臂長(zhǎng)度設(shè)計(jì),方便移動(dòng)、搬運(yùn)。

ð        上蓋傾斜6度角,寓意對(duì)客戶的尊重。

ð        表面采用汽車噴漆工藝,采用寶藍(lán)、雅致白搭配,藍(lán)色代表科技,白色代表圣潔,寓意對(duì)科學(xué)的敬仰。

ð        可視化樣品窗。

Ø      輻射防護(hù):

ð        樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線。

ð        輻射標(biāo)志警示。

ð        迷宮式結(jié)構(gòu),防止射線泄漏。

ð        安全連鎖設(shè)計(jì);測(cè)試過(guò)程中誤打開(kāi)樣品蓋時(shí),電路0.1μS快速切斷X射線。

ð        儀器經(jīng)第三方檢測(cè),X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》。

Ø      硬件技術(shù):

ð        超短光路設(shè)計(jì):提高無(wú)鹵檢測(cè)分辨率,提高樣品分析效率,降低光管功率,延長(zhǎng)儀器使用壽命。

ð        模塊化準(zhǔn)直器,根據(jù)分析元素,配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器,從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響,提高元素分辨率。

ð        空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì),加速光管冷卻,有效降低儀器內(nèi)部溫度;靜音設(shè)計(jì)。

ð        電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

ð        快拆樣品盤(pán),更換薄膜更方便。

Ø      軟件技術(shù):

ð        分析元素:Na~U之間元素。

ð        分析時(shí)間:60秒。

ð        配置RoHS檢測(cè)分析模型,無(wú)鹵分析模型。

ð        軟件界面簡(jiǎn)潔,模塊化設(shè)計(jì),功能清晰,易操作。

ð        可配置鍍層分析模型、玩具指令等模型。

ð        HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份,一鍵還原功能,保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全。

ð        HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測(cè)試度。

ð        HeLeeX ED Workstation V3.0配備開(kāi)放式分析模型功能,客戶建立自己的工作模型。




儀器硬件配置
 

探測(cè)器

Ø        類型:X123探測(cè)器(原裝進(jìn)口高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器)

Ø        Be窗厚度:1mil

Ø        晶體面積:25mm2

Ø        分辨率:145eV

Ø        信號(hào)處理系統(tǒng)DP5

X射線管

Ø        電    壓     :0~50kV

Ø        zui大電流     :2.0mA

Ø        zui大功率     :50W

Ø        靶    材     :Mo

Ø        Be窗厚度    :0.2mm

Ø        使用壽命     :大于2萬(wàn)小時(shí)

高壓電源

Ø        輸出電壓:0~50kV

Ø        燈絲電流:0~2mA

Ø        zui大功率:50W

Ø        紋波系數(shù):0.1%(p-p值)

Ø        8小時(shí)穩(wěn)定性:0.05%

攝像頭

Ø        微焦距

Ø        免驅(qū)動(dòng)

Ø        500萬(wàn)像素

準(zhǔn)直器、濾光片

Ø        快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)

Ø        多種材質(zhì)準(zhǔn)直器

Ø        光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可選

Ø        多種濾光片、準(zhǔn)直器組合,軟件自動(dòng)切換

其他配件

進(jìn)口高性能開(kāi)關(guān)電源

進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇


本頁(yè)產(chǎn)品地址:http://www.mingjiewl.com/sell/show-4878993.html
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