JWDL-1型金屬電阻率測試儀

關(guān)鍵詞：金屬電阻，導(dǎo)電膜，金屬涂層

JWDL-1型金屬電阻率測試儀是一款針對于不同金屬材料電阻測試的專業(yè)設(shè)備，不管是銅金屬材料，導(dǎo)電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層都可以采用這款設(shè)備，金屬電阻率測試方案核心原則：一是可以用專門測試金屬材料電阻率的鎢針探頭，二是要知道金屬材料的測試范圍能夠好的為你選配四探針測試儀。金屬材料屬于硬質(zhì)材料，必須要選擇碳化鎢針探頭，這種探頭具有耐磨性好，使用時間長。WDL-1型金屬電阻率測試儀是判斷金屬性質(zhì)的重要設(shè)備，也是材料生產(chǎn)廠家和科研的重要設(shè)備。

一、主要應(yīng)用領(lǐng)域：

1、硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；

2、柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻

3、電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量

4、電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

二、主要技術(shù)參數(shù)：

測量范圍

1、電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω

2、電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm

3、方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□

4、電壓量程： 20.00mV～2000mV

5、電流量程： 0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA，1A

6、誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字

7、材料尺寸：直徑：圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，

方測試臺直接測試方式180mm×180mm，

長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,

測量方位: 軸向、徑向均可

8、探頭類型：

9、碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)

10、薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)

11、電源：輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<20W

12、外形尺寸：主 機 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）

凈 重：≤2.5kg

導(dǎo)電金屬箔材

金屬 銅金屬材料

我們專業(yè)提供功能材料測試設(shè)備及測試服務(wù)：

一、壓電材料測試裝置：ZJ-3型D33測試儀，ZJ-4型寬量程D33測試儀，ZJ-5型疊層壓電測試儀，ZJ-6型多功能參數(shù)壓電測試儀,GDPT-900A型高溫壓電測試系統(tǒng),JKZC-YDZK03A型壓電阻抗分析儀，YDH-1型壓電電荷測試儀，YDB-03型壓電陶瓷表面電壓測試儀

二、壓電材料制樣設(shè)備：PZT-JH10/4型壓電陶瓷極化裝置，PZT-JH20/1型粉末極化裝置

PZT-JH30/3型壓電陶瓷及薄膜綜合極化裝置，ZJ-D33-YP15型壓片機

三、介電材料測試裝置：GWJDN-600型四通道高溫介電測試儀，GWJDN-1000型四通道高溫介電測試儀

四：鐵電材料測測試儀：ZT-4A鐵電測試儀 ,FE-5000型變溫鐵電測試系統(tǒng)，ECM -150型電卡效應(yīng)測試系，DCD-100型儲能電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)，

五、BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀

高溫功能材料測試設(shè)備：

GDPT-900A型高溫D33測試系統(tǒng)，GWJDN-1000型四通道高低溫介電測試儀，HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測試儀，JGWDZ-1000型金屬高溫電阻測量系統(tǒng)，BWGP-2000型變溫光譜測試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)），FSR-600材料高溫雙波段發(fā)射率測量系統(tǒng)，TSDC/TSC--400 型熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)，GWTF-300高溫鐵電材料測量系統(tǒng) ，HTGSRM-1000型高溫氣敏材料測量系統(tǒng)，PTC/NTC-500高溫?zé)崦綦娮璨牧蠀?shù)測量分析系統(tǒng)，HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測試儀，PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測試系統(tǒng)，HTRC-600型高溫導(dǎo)電材料電阻率測試系統(tǒng)，