電阻率/方塊電阻測試儀 型號：DP-DB1

電阻率/方塊電阻測試儀概述

DP-DB1方阻測試為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬的量程范圍內，使電子薄膜能得到的方塊電阻測量結果。

電阻率/方塊電阻測試儀DP-DB1儀器技術參數

方阻測量范圍：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□；

電阻率測量范圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m

小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；

探針壓力：25g～250g；

探針曲率半徑：25μm～450μm

（注：探針壓力及曲率半徑可根據薄膜材料性能及用戶需求制）；

測試電流分7檔：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；

測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續(xù)可調

     （100mA檔）    8～36V連續(xù)可調

     （1000mA檔）   8～15V連續(xù)可調；

測量方式：手動或自動（選配測試軟件）；

測量對象：導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等電子薄膜；各種半導體材料的電阻率。