顯微熔點儀 熔點儀 型號：DP-SGW X-4B
特點：
測定物質(zhì)的熔點。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
主要參數(shù)：
熔點測量范圍：室溫至320℃
測量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時）
溫度顯示zui小值：0.1℃
|
X-4 |
X-4A |
X-4B |
|
|
溫度顯示zui小值 |
1℃ |
0.1℃ |
0.1℃ |
|
熔點觀察方式 |
單目顯微鏡 |
單目顯微鏡 |
雙目體視顯微鏡 |
|
光學(xué)放大倍數(shù) |
40× |
40× |
40×-100×連續(xù)變倍 |
