微動(dòng)腐蝕是微動(dòng)磨損與氧化等環(huán)境腐蝕的結(jié)合 現(xiàn)象，是一個(gè)涉及機(jī)械運(yùn)動(dòng)和化學(xué)反應(yīng)共同作用的復(fù) 雜問(wèn)題。已知的影響微動(dòng)的因素可以分為三類，即：材 料性能與行為、接觸條件以及環(huán)境條件。本接插件端子微動(dòng)磨損試驗(yàn)機(jī)只考慮微動(dòng)磨損測(cè)試。

VW75174（LV214標(biāo)準(zhǔn)）車用連接器測(cè)試規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)的要求和條件：

1，接觸電阻期間的連續(xù)監(jiān)測(cè)，記錄和存儲(chǔ): 測(cè)量頻率: 4赫茲，

2，摩擦負(fù)載摩擦距離: 50μm；

3，Cycle 時(shí)間: 1赫茲；

4，循環(huán)次數(shù): 100000；

5，電氣負(fù)載: max。100毫伏，10毫安(此點(diǎn)某些客戶未做要求）

依據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)所研發(fā)設(shè)備簡(jiǎn)介：

接插件端子微動(dòng)磨損試驗(yàn)機(jī)依據(jù)以上標(biāo)準(zhǔn)和條件研發(fā)生產(chǎn)，可以對(duì)汽車線束端子進(jìn)行微動(dòng)摩擦測(cè)試，并監(jiān)測(cè)阻抗。有些還需要對(duì)兩端的歐姆阻抗夾自帶的電流電壓也有要求。端子微動(dòng)摩擦產(chǎn)生的危害不容小覷，接觸電阻大會(huì)導(dǎo)致接觸處發(fā)熱或者接觸不良等

微動(dòng)腐蝕導(dǎo)致的接觸劣化速率通 常隨著接觸載荷的增加而降低。ECR本質(zhì)上是由接觸力和接觸面積決定的，當(dāng)增大微動(dòng)界面受力時(shí)，界面之間的微動(dòng)腐蝕產(chǎn)物或摩擦聚合物就容易被穿透，從而抑制了微動(dòng)的危害作用。在滑動(dòng)界面中，增加接觸載荷會(huì)導(dǎo)致大的摩擦力，從而阻礙運(yùn)動(dòng)，并減輕微動(dòng)腐蝕產(chǎn)物的形成。在連接器中，提高法向負(fù)載會(huì)增加固位力，從而減少微動(dòng)的趨勢(shì)。同時(shí)也要看到， 提高接觸載荷只能推遲微動(dòng)腐蝕的發(fā)生，但長(zhǎng)時(shí)間的 微動(dòng)依然會(huì)導(dǎo)致微動(dòng)疲勞和表面層斷裂。因此，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格的接觸件均規(guī)定有大插入力和小分離力。大的插拔力有利于保證接觸穩(wěn)定可靠，但同時(shí)插拔力越大也意味著帶來(lái)的磨損大，導(dǎo)致每次插合和分離都會(huì)加劇磨損，甚至使表面受到損傷，在提高接觸不確定性的同時(shí)，又降低了使用壽命。接觸件的插拔力和機(jī)械壽命、接觸件結(jié)構(gòu)、接觸部位鍍層質(zhì)量均直接相關(guān)。插針插孔理想的設(shè)計(jì)狀態(tài)為：插拔力大小適中，既可以保證插針插孔之間平滑插拔，將插合與分離造成的表面損傷降到低，又能保證電連接器插合 后接觸緊密，ECR 和接觸壓力穩(wěn)定連續(xù)。

微動(dòng)頻率的影響。由于微動(dòng)是以一定的速率進(jìn)行的往復(fù)運(yùn)動(dòng)，而腐蝕是時(shí)間的函數(shù)，所以微動(dòng)頻率是微動(dòng)腐蝕試驗(yàn)的重要控制因素之一。對(duì)于非貴金 屬涂層接觸，在試驗(yàn)的典型范圍內(nèi)，接觸件在不同頻率下發(fā)生微動(dòng)腐蝕，電阻和金屬體積比隨微動(dòng)周期數(shù)的增加而增加?？梢杂^察到，頻率越低，性能退化速率越快，頻率升高，早期周期的電阻上升變得溫和。這主要是因?yàn)樵谳^低頻率下，氧化物在一個(gè)循環(huán)時(shí)間內(nèi)積累較多。對(duì)于鍍金銅合金電觸點(diǎn)，將其微動(dòng)形態(tài)分為 3 類，分別是無(wú)限大 壽命態(tài)、氧化主導(dǎo)失效態(tài)和瞬態(tài)不穩(wěn)定電導(dǎo)率失效 態(tài)，固定振幅增加頻率，會(huì)導(dǎo)致微動(dòng)從部分滑移態(tài)過(guò) 渡到氧化磨損的全局滑移態(tài)，進(jìn)而過(guò)渡到電導(dǎo)率不同的全局滑移態(tài)。

具體的驗(yàn)證是需要接插件端子微動(dòng)磨損試驗(yàn)機(jī)來(lái)檢測(cè)。若需要此款設(shè)備的資料，請(qǐng)聯(lián)系聯(lián)往檢測(cè)設(shè)備！