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- 產品/服務:Thick800a X-ray熒光測厚儀
- 型 號:Thick800a
- 品 牌:天瑞ROHS儀
- 單 價:面議
- 更新日期:2025-12-08
- 有效期至:長期有效
- 瀏覽次數(shù):1168
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X-ray熒光測厚儀符合電鍍產品的特點,滿足不規(guī)則樣品的測試.銅箔鍍層厚度檢測,光伏行業(yè)焊帶銅鍍錫鉛合金厚度檢測...
X-ray熒光測厚儀
對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可分析,對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測,檢測環(huán)境里的重金屬是否超標。
的詳細信息
X-ray熒光測厚儀介紹:
被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識,對每種化學元素的原子來說,都有其特定的能結構,其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,成為自由電子,這時原子被激發(fā)了,處于激發(fā)態(tài)。此時,其他的外層電子便會填補這空位,即所謂的躍遷,同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每種元素的原子能結構都是特定的,它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的,稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量,便可以確定相應元素的存在,而特征X射線的強弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量或厚度。
X-ray熒光測厚儀采用上照式設計,符合電鍍產品的特點,滿足不規(guī)則樣品的測試.
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
移動平臺可定位測試點,重復定位度小于0.005mm
采用度定位激光,可自動定位測試度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
分辨率探頭使分析結果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口度敏感性傳感器保護
術標
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度般在50μm以內(每種材料有所不同)
意多個可選擇的分析和識別模型。
相互的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
應用域
五金電鍍厚度檢測,
飾電鍍貴金屬厚度檢測,
電子連接件表層厚度檢測,
電鍍液含量分析。
電力行業(yè)壓開關柜用銅鍍銀件厚度檢測,
銅鍍錫件厚度檢測,航空材料金屬鍍層厚度檢測。
銅箔鍍層厚度檢測,光伏行業(yè)焊帶銅鍍錫鉛合金厚度檢測,
鐵鍍鉻 鍍鋅 鍍鎳厚度檢測等。
產品計量
售后服務
專門針對鍍層厚度測量而心設計的款端儀器,已經成為電力行業(yè),PCB行業(yè),貴金屬飾行業(yè)的鍍層分析的常規(guī)手段,比傳統(tǒng)的電解法測厚儀具有更快的測試速度和分析度,也比切片法具有更快的分析效率測試范圍廣:X熒光光譜儀,是種物理分析方法,其分析與樣品的化學結合狀態(tài)無關。對在化學性質上屬同族的元素也能行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性:由于測試過程無人為因素干擾,儀器自身分析度、重復性與穩(wěn)定性很。所以,其測量的可靠性更。
滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、能強大,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設定儀器參數(shù),并就有多種的分析方法,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要
儀器
、
天瑞在1992年研發(fā)出了*臺能量色散X射線熒光光譜儀,至今已經有25年以上經驗積累,目前是家真正有實力研發(fā)光譜儀及上市的公司,目前公司市值已超百億,在擁有多家子公司,團隊規(guī)模達3000人,成為乃至檢測分析行業(yè)的者和。
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