ICP發(fā)射光譜儀優(yōu)異的分析特性

1、ICP光譜儀分析法先是一種發(fā)射光譜分析方法，可以多元素同時(shí)測定。不論是多道直讀還是單道掃描儀器，均可以在同一試樣溶液中同時(shí)測定大量元素(30--50個(gè)，甚至更多)。已有文獻(xiàn)報(bào)導(dǎo)的分析元素可達(dá)78個(gè)，即除氬以外的所有元素，自然界存在的所有元素，都已有用ICP發(fā)射光譜儀法測定的報(bào)告。而在實(shí)際應(yīng)用上，并非所有元素都能方便地使用ICP-AES法進(jìn)行測定，仍有些元素的測定采用其他分析手段更為有效，盡管如此ICP光譜儀分析法仍是元素分析為有效的方法。

2、線性分析范圍寬。分析物在溫度較低的中間通道內(nèi)電離和激發(fā)，由于外圍溫度高，這就消除了一般發(fā)射光譜法的自吸現(xiàn)象。在一定高濃度(一般元素?cái)?shù)百μg／mL溶液濃度)范圍內(nèi)，其工作曲線仍能保持直線；而低含量(0.0Xμg/mL以下)由于檢出限低，又可使工作曲線向下延長。因此，工作曲線的直線范圍可達(dá)5～6個(gè)數(shù)量級(jí)，待測元素的質(zhì)量濃度在1000μg/L以下一般都能呈良好的線性關(guān)系。對(duì)于ICP直讀光譜法，主量、低量和痕量元素可同時(shí)進(jìn)行分析。

3、ICP光譜儀分析法具有較高的蒸發(fā)、原子化和激發(fā)能力，干擾水平比較低。由于等離子體光源的異常高溫，可以避免一般分析方法的化學(xué)干擾、基體干擾，與其他光譜分析方法相比，干擾水平比較低。等離子體焰矩的溫度比一般化學(xué)火焰更高，能使一般化學(xué)火焰難以激發(fā)的元素原子化、激發(fā)，所以有利于難激發(fā)元素的測定。而且Ar氣氛中不易生成難熔的金屬氧化物，從而使基體效應(yīng)和共存元素的影響變得不明顯。ICP光源的自吸現(xiàn)象很低，校正曲線的線性范圍可達(dá)5--6個(gè)數(shù)量級(jí)，在大多數(shù)情況下，元素濃度與測量信號(hào)呈簡單的線性。因此在許多情況下可用人工配制的校準(zhǔn)溶液。在一定條件下，可以減少參比樣品嚴(yán)格匹配的麻煩，一般亦可不用內(nèi)標(biāo)法。Ar-ICP光源電離干擾小，即使分析樣品中存在容易電離的K或Na，參比樣品也不用匹配K或Na的成分。而火焰原子吸收光譜法，在分析Na時(shí)，需要添加大量的K來抑制Na的電離干擾。低的干擾水平和高的分析準(zhǔn)確度，是ICP光譜法主要的優(yōu)點(diǎn)之一。既可測低濃度成分，又可同時(shí)測高濃度成分，是充分發(fā)揮ICP光譜儀分析多元素同時(shí)測定能力的一個(gè)非常有價(jià)值的分析特性。