四探針電阻測試儀主機采用電路設計，所測數值更精、更快、更準（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點：體積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。本儀器電壓檔為自動調整,電流檔為半自動.不清楚被測物體阻值時,可按菜單先選擇100MA電流檔進行自動搜索(電流可由高至低自動搜索,不能由低向高搜索),當選擇好電流檔后,電壓會自動進行調整。關于四探針電阻測試儀，您需要知道這些：
 1、電阻率與方阻的概念 
電阻率：當某種材料截成正方體時，平行對面間的電阻值只與材料的類別有關，而與正方形邊長無關，這種單位體積的阻值可以反映材料的導電特性，稱為電阻率（體電阻率），記為：ρ，標準單位：Ω-m，常用單位Ω-cm
方塊電阻：薄膜類導體、半導體材料截成薄層正方形時，平行對邊間的電阻值只與材料的類別（電阻率）和厚度有關，而與正方形邊長無關，這種單位面積的對邊間的電阻值可反映薄膜的導電特性和厚度信息，稱為方塊電阻，簡稱方阻。記為：R □，標準單位：Ω/□
2、測試相關標準
（1）GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》
（2）SJT 10314-1992《直流四探針電阻率測試儀通用技術條件》
3、測試應用范圍
數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。根據不同材料特性需要，配有多款測試探頭：
（1）高耐磨碳化鎢探針探頭，測量硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；
（2）球形鍍金銅合金探針探頭，測量柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻；
（3）配合四端子測試夾具，測量電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻；
（4）專用探頭可測試電池片等箔上涂層電阻率/方阻。