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產(chǎn)品展示

192-630-10 日本三豐雙柱數(shù)顯高度尺

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：日本三豐雙柱數(shù)顯高度尺192系列雙柱數(shù)顯高度尺高度尺也被稱(chēng)為高度游標(biāo)卡尺。顧名思義，它的主要用途是測(cè)量工件的高度，另外還經(jīng)
價(jià)格：面議
三豐高度尺日本三豐雙柱帶表高度尺

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：日本三豐雙柱帶表高度尺192系列雙柱帶表高度尺高度尺也被稱(chēng)為高度游標(biāo)卡尺。顧名思義，它的主要用途是測(cè)量工件的高度，另外還經(jīng)
價(jià)格：面議
雙柱數(shù)顯高度尺雙柱帶表高度尺

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：高度尺高度尺也被稱(chēng)為高度游標(biāo)卡尺。顧名思義，它的主要用途是測(cè)量工件的高度，另外還經(jīng)常用于測(cè)量形狀和位置公差尺寸，有時(shí)也用
價(jià)格：面議
數(shù)顯高度尺游標(biāo)高度尺

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：高度尺高度尺也被稱(chēng)為高度游標(biāo)卡尺。顧名思義，它的主要用途是測(cè)量工件的高度，另外還經(jīng)常用于測(cè)量形狀和位置公差尺寸，有時(shí)也
價(jià)格：面議
TESA MICRO-HITE plus M測(cè)高儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TESA MICRO-HITE plus M 二維測(cè)高儀(自動(dòng)型)功能及特點(diǎn)：● TESA MICRO-HITE plus M二維測(cè)高儀（自動(dòng)型）可測(cè)量高度，深度，垂直
價(jià)格：面議
TESA MICRO-HITE 二維測(cè)高儀(手動(dòng)型)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TESA MICRO-HITE二維測(cè)高儀(手動(dòng)型)功能及特點(diǎn)：● MICRO-HITE維測(cè)高儀（手動(dòng)型）可測(cè)量高度，深度，垂直度，直線度，平行度，內(nèi)
價(jià)格：面議
TESA-HITE PLUS M 400/700 測(cè)高儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TESA-HITE PLUS M 400/700測(cè)高儀源于TESA長(zhǎng)期以來(lái)的技術(shù)創(chuàng)新，推出全新TESA-HITE PLUS M 400和700 - 始終保持杰出的產(chǎn)品性能價(jià)
價(jià)格：面議
JD3立式光學(xué)計(jì)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：JD3投影立式光學(xué)計(jì)一、產(chǎn)品名稱(chēng)：投影立式光學(xué)計(jì)二、型號(hào)：JD3三、特點(diǎn)：投影立式光學(xué)計(jì)是光學(xué)機(jī)械端度儀器。它是利用標(biāo)
價(jià)格：面議
JDG-S1 數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：JDG-S1數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)特點(diǎn)介紹： JDG-S1數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測(cè)量工件的尺寸。主要用于對(duì)五等
價(jià)格：面議
JDG-S2 數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：JDG-S2數(shù)字式立式光學(xué)計(jì) JDG-S2數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)是新設(shè)計(jì)制造的立式光學(xué)計(jì)，直接測(cè)量可以達(dá)到10毫米，并有公英制的轉(zhuǎn)換顯示，
價(jià)格：面議
JD22 數(shù)顯立式測(cè)長(zhǎng)儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：JD22數(shù)顯立式測(cè)長(zhǎng)儀一、特點(diǎn)： 1、采用的振幅光柵傳感器數(shù)字測(cè)量系統(tǒng)。 2、測(cè)量軸的運(yùn)動(dòng)由六只C級(jí)軸承和兩只超C級(jí)軸承導(dǎo)向
價(jià)格：面議
JD25-D 數(shù)字式測(cè)長(zhǎng)儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：JD25-D數(shù)字式測(cè)長(zhǎng)儀一、特點(diǎn)：基座選用優(yōu)質(zhì)鑄鐵，經(jīng)長(zhǎng)期自然時(shí)效處理，穩(wěn)定性好。采用優(yōu)化設(shè)計(jì)，從結(jié)構(gòu)上確保性能好，精度
價(jià)格：面議
JD25-C 數(shù)據(jù)處理測(cè)長(zhǎng)儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：JD25-C數(shù)據(jù)處理測(cè)長(zhǎng)儀一、特點(diǎn)： JD25-C數(shù)據(jù)處理測(cè)長(zhǎng)儀基座選用優(yōu)質(zhì)鑄鐵，經(jīng)長(zhǎng)期自然時(shí)效處理，穩(wěn)定性好。采用優(yōu)化設(shè)計(jì)
價(jià)格：面議
JD18 投影測(cè)長(zhǎng)儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：JD18投影測(cè)長(zhǎng)儀一、特點(diǎn)： JD18投影測(cè)長(zhǎng)儀采用投影屏讀取，使用更方便。投影屏采用臘屏技術(shù)，成像清晰，視場(chǎng)亮度勻稱(chēng)。
價(jià)格：面議
JD9A/JD21/JD10A 測(cè)長(zhǎng)機(jī)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：JD9A/JD21/JD10A型投影二米、三米測(cè)長(zhǎng)機(jī)一、特點(diǎn)：基座采用優(yōu)質(zhì)鑄鐵，經(jīng)長(zhǎng)期自然時(shí)效處理，確保足夠剛性和穩(wěn)定性。利用艾伯斯
價(jià)格：面議
6JA 干涉顯微鏡

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：6JA干涉顯微鏡一、用途6JA干涉顯微鏡是用來(lái)測(cè)量加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來(lái)測(cè)量零件表面刻線，
價(jià)格：面議