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探針臺搭配產(chǎn)品/半導體參數(shù)分析儀/矢量網(wǎng)絡分析儀/其他類型源表
產(chǎn)品簡介：探針臺搭配產(chǎn)品/半導體參數(shù)分析儀/矢量網(wǎng)絡分析儀/其他類型源表
價格：面議
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非標探針臺
產(chǎn)品簡介：非標探針臺/微型探針臺/倒裝手動測試夾具/光電流測試顯微鏡/TEC制冷卡盤/磁場探針臺(無磁設計)/110g以上高頻測試探針臺/自動測試系統(tǒng)/可升降平臺/高精度納米探針座/毫米級手持式探針夾具/ FA失效分析探針臺
價格：面議
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JKZC-DM系列基礎型探針臺
產(chǎn)品簡介：JKZC-DM系列基礎型探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發(fā)的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，極具性價比。在高等院校教學和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用，配合對應的儀器儀表，用于測試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號，1/f噪聲測試，器件表征測試，RF射頻等。如 果您的
價格：面議
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JKZC-DN系列增強型探針臺
產(chǎn)品簡介：JKZC-DN系列增強型探針臺是我司一款增強型晶圓測試探針臺，最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺釆 用高剛性顯微鏡龍門結構，顯微鏡可X-Y-Z方向進行精密位移調(diào)節(jié)。卡盤具備上下調(diào)節(jié)功能,可以使探針與 樣品快速分離，提高測試效率，在科研單位和半導體工廠都得到了廣泛運用，配合對應的儀器儀表,可以完 成集成更多
價格：面議
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JKZC-DSH系列雙面探針臺
產(chǎn)品簡介：JKZC-DSH系列雙面探針臺是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規(guī)探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試，對晶圓或者PCB板正面和背面同時扎針以實現(xiàn)各種 光/電性能測試需求的測試，或背面點針，正面收集光線等,運用十分豐富。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結構
價格：面議
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JKZC-UC系列高低溫探針臺
產(chǎn)品簡介：JKZC-UC系列高低溫探針臺是一款在非真空條件下實現(xiàn)低溫環(huán)境的測試探針臺。該產(chǎn)品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動控溫，設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可以屏蔽無線電磁干擾，另外一方面也可以保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時無結霜。此設備對于一些有溫度需求的測試，尤其是低溫，運用非常廣泛。
價格：面議
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JKZC-DH系列綜合型探針臺
產(chǎn)品簡介：JKZC-DH系列綜合型探針臺是一款綜合型晶圓測試探針臺，最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺設備配 置十分豐富，不僅具備龍門架結構和卡盤的升降功能，還具備業(yè)內(nèi)領先的卡盤快速移動技術，可快速定位 樣品位置,提高測試效率。另外針座平臺具備三段式升降功能,在不失焦的情況下可以使樣品和探針做到 快速分離，同時
價格：面議
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JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺
產(chǎn)品簡介：JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發(fā)的一款在極端環(huán)境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現(xiàn) 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。通過液氮或者壓縮機制冷，可以在防輻射屏內(nèi)營造一個穩(wěn)定的測試環(huán)境。在特殊材料，半導體器件等研究方向具有廣泛運用。
價格：面議
